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Fluke 5623B 精密鉑電阻溫度計(jì)

簡(jiǎn)要描述：福祿克計(jì)量校準(zhǔn)部是隸屬于創(chuàng)建于1948年福祿克公司下的一個(gè)部門。福祿克公司生產(chǎn)的計(jì)量校準(zhǔn)產(chǎn)品遍布于各地的校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室中，其中包括國(guó)級(jí)計(jì)量機(jī)構(gòu)，這些機(jī)構(gòu)需要提供強(qiáng)大的技術(shù)支持，其儀器設(shè)備要求具有高精度等級(jí)以及性能良好和可靠性。Fluke 5623B 精密鉑電阻溫度計(jì)

產(chǎn)品型號(hào)：
廠商性質(zhì)：代理商
更新時(shí)間：2023-12-23
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福祿克計(jì)量校準(zhǔn)

高精度測(cè)溫儀射頻計(jì)量校準(zhǔn) 標(biāo)準(zhǔn)源電學(xué)計(jì)量校準(zhǔn)

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詳細(xì)介紹

品牌	FLUKE/福祿克	價(jià)格區(qū)間	面議
產(chǎn)地類別	進(jìn)口	應(yīng)用領(lǐng)域	電子/電池,道路/軌道/船舶,航空航天,汽車及零部件,電氣

Fluke 5623B 精密鉑電阻溫度計(jì)全浸沒探頭組件的溫度可達(dá) – 100°C

全浸沒探頭組件的溫度可達(dá) – 100°C
經(jīng) NVLAP 認(rèn)可的校準(zhǔn)證書，實(shí)驗(yàn)室編碼 200706-0，包含 ITS-90 系數(shù)
在整個(gè)范圍內(nèi)，準(zhǔn)確度達(dá) ± 0.05 °C

如果您需要在低溫下進(jìn)行精密測(cè)量，F(xiàn)luke Calibration的產(chǎn)品是您選擇。

5623B，即精密的“低溫鉑電阻溫度計(jì)”，采用特殊密封，從傳感元件密封到探頭電纜末端，以便在暴露于低至 – 100 °C 的溫度下時(shí)防止水分滲入。整個(gè)組件能夠承受其全范圍的溫度（– 100 °C 到 156 °C），要在沒有熱井的情況下驗(yàn)證制冷器或壓煮器，5623B 就是理想的選擇。當(dāng)可能需要在液體槽中使用 5623B 組件時(shí)，它能夠*浸入于液體中。5623B 組件置于直徑為 6.35 mm（0.25 英寸），長(zhǎng)度為 125 mm（6 英寸）的 Inconel™ 護(hù)套中。5623B 在整個(gè)范圍內(nèi)的準(zhǔn)確度（包括校準(zhǔn)不確定度和短期漂移）為 ± 0.05 °C，是用作其他工業(yè)傳感器校準(zhǔn)的二級(jí)標(biāo)準(zhǔn)儀器。

大多數(shù) Fluke Calibration 讀數(shù)裝置都能與 5623B 良好地搭配使用。我們建議使用 1523、1524、1502A、1529 或 1560 溫度計(jì)讀數(shù)裝置。

每個(gè) 5623B 均配備完整的、經(jīng) NVLAP 認(rèn)可的校準(zhǔn)報(bào)告。此報(bào)告含有測(cè)試數(shù)據(jù)及 ITS-90 校準(zhǔn)系數(shù)，以輸入到您的 Fluke Calibration 溫度計(jì)讀數(shù)裝置中。

技術(shù)指標(biāo)Fluke 5623B 精密鉑電阻溫度計(jì)
電阻	標(biāo)稱電阻 100 Ω (± 0.1 Ω)
溫度系數(shù)	標(biāo)稱系數(shù) 0.003925 Ω/Ω/°C
溫度量程	- 100 °C 到 156 °C
Transition Temperature	- 100 °C 到 156 °C
偏移率	如果定期在溫度下使用，則在 0 °C 時(shí)大漂移率為 ± 0.01 °C/年
外殼材料	Inconel^™ 600
引線	Teflon™-insulated, silver-plated stranded copper, 22 AWG.
接線端	用戶。請(qǐng)參見“型號(hào)及配件”。
校準(zhǔn)	內(nèi)含制造商提供的經(jīng) NVLAP 認(rèn)可的校準(zhǔn)證書，實(shí)驗(yàn)室編碼 200706-0，以及從 – 80 °C 到 156 °C、增量為 1 °C 的 R 與 T 值對(duì)比表。并且包含 ITS-90 系數(shù)。
校準(zhǔn)后的準(zhǔn)確度^†(k=2)	在整個(gè)范圍內(nèi)為 ± 0.05 °C
電纜長(zhǎng)度	6.1 m（20 英尺）
尺寸	6.35 mm (0.25 英尺) 直徑x 152 mm (6 英尺)
Includes calibration uncertainty and drift.

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