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Chroma 3280 測(cè)試分類機(jī)

簡(jiǎn)要描述：Chroma 3280 測(cè)試分類機(jī)為所有的SD卡類產(chǎn)品帶來(lái)了一個(gè)創(chuàng)新的測(cè)試方法，而這高效率的測(cè)試方法也為客戶帶來(lái)大幅降低生產(chǎn)成本的好處。此外，小機(jī) 臺(tái)的設(shè)計(jì)更可節(jié)省機(jī)臺(tái)于測(cè)試廠之占地面積。整合了測(cè)試機(jī)臺(tái)與自動(dòng)分類機(jī)的功能，并采用創(chuàng)新的設(shè)計(jì)，滿足采用KGD生產(chǎn)的SD 卡類產(chǎn)品的測(cè)試需求，不論是在機(jī)臺(tái)的成本或是體積上，都比傳統(tǒng)的測(cè)試機(jī)臺(tái)來(lái)的大幅降低，因此也就能夠相對(duì)地大幅降低測(cè)試的成本。

產(chǎn)品型號(hào)：
廠商性質(zhì)：代理商
更新時(shí)間：2023-12-24
訪問(wèn) 量：1485

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半導(dǎo)體/IC測(cè)試解決方案

IC測(cè)試分類機(jī) SoC 測(cè)試系統(tǒng)

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品牌	Chroma/致茂	產(chǎn)地類別	進(jìn)口
應(yīng)用領(lǐng)域	醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產(chǎn)業(yè),電子/電池,道路/軌道/船舶

Chroma 3280 測(cè)試分類機(jī)為所有的SD卡類產(chǎn)品帶來(lái)了一個(gè)創(chuàng)新的測(cè)試方法，而這高效率的測(cè)試方法也為客戶帶來(lái)大幅降低生產(chǎn)成本的好處。此外，小機(jī) 臺(tái)的設(shè)計(jì)更可節(jié)省機(jī)臺(tái)于測(cè)試廠之占地面積。整合了測(cè)試機(jī)臺(tái)與自動(dòng)分類機(jī)的功能，并采用創(chuàng)新的設(shè)計(jì)，滿足采用KGD生產(chǎn)的SD 卡類產(chǎn)品的測(cè)試需求，不論是在機(jī)臺(tái)的成本或是體積上，都比傳統(tǒng)的測(cè)試機(jī)臺(tái)來(lái)的大幅降低，因此也就能夠相對(duì)地大幅降低測(cè)試的成本。

SD卡類制造商了解在SD卡的制程中必須采用Known Good Die(KGD)來(lái)進(jìn)行生產(chǎn)。其主要的原因，乃是因?yàn)椴捎肒GD生產(chǎn)的SD卡類產(chǎn)品，將可減少在成品測(cè)試中對(duì)于測(cè)試項(xiàng)目的要求，只需針對(duì)成品封裝過(guò)程中所可能產(chǎn)生的瑕疵進(jìn)行檢測(cè)，而不需要再對(duì)整個(gè)晶片進(jìn)行完整的測(cè) 試。